半導体産業

半導体 AI は、コントラストが低く、研磨痕や通常の表面テクスチャーと間違われやすい、視界の端にある欠陥を検査します。これらの展開は、CMP スクラッチからダイシング チップに至るまで、AOI の過剰な処理や見逃しをファブやパッケージング ラインが捕らえていることを示しています。