運用SolVision AI影像平台的非監督式學習工具Anomaly Detection，以不具瑕疵的影像樣本(Golden Sample)執行AI深度學習，並輔以資料擴增技術提升AI模型對於標準樣本的辨識度。訓練完成的AI模型即能辨別受測物件與標準樣本的相異之處，定位並標註封裝晶片內邊緣微裂瑕疵的位置，完全不受穿透成像特性的影響。