Yarı İletkenler
Görünürlüğün sınırında bulunan, düşük kontrastlı ve cilalama izleri veya normal yüzey dokusuyla kolayca karıştırılan kusurlar için yarı iletken yapay zeka denetimi. Bu dağıtımlar, CMP çiziklerinden küp küp doğramaya kadar AOI’nin aşırıya kaçtığı veya gözden kaçırdığı şeyleri yakalayan fabrikaları ve paketleme hatlarını gösteriyor.
Yarı İletken Wafer Denetimlerinin Otomasyonu
Hatalı wafer'lar genellikle yüzeyde rastgele dağılmış ince hatalara sahip olup, bu durum AOI (Otomatik Optik Denetim) sistemlerinin verimli denetimler için kurallar koymasını engeller.
‧
Yarı İletkenlerde Yapışma Hatalarının Tespiti
Aşırı yapıştırıcı, çip üzerinde kalabilir veya devre kartına taşarak çipin eğilmesine neden olabilir ve bu da yarı iletken paketin genel stabilitesini etkiler.
‧
Lehim Çerçevelerinin Kalite Denetiminin Otomatikleştirilmesi
Yarı iletken üretimi daha sofistike hale geldikçe, lehim çerçevelerinin üretim süreci doğruluk ve verimlilik açısından geliştirilmelidir.
‧
Yarı İletken Paketleme Süreçlerinin Muayenesi
SolVision, AI görüntü analizi sayesinde görsel muayeneyi mümkün kılar ve die bonding sürecindeki hatalı ürünleri ve kusurları tespit etmek için yer değiştirme ve açı bilgilerinin güvenilirliğini artırır.
‧
Yapay Zeka Kullanarak Geri Dönüşüm İçin Plastik Parçaların Doğrulanması
META-aivi’nin yapay zeka ile atık yönetimini nasıl optimize ettiğini keşfedin; hataları azaltarak kirlenmeyi önlerken plastik geri dönüşüm sürecinin verimliliğini artırır.
‧