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SOLUCIONES POR SECTOR —

Semiconductores

Inspección de semiconductores mediante IA para detectar defectos que se encuentran en el borde de la visibilidad, con poco contraste y que se confunden fácilmente con rastros de pulido o una textura superficial normal. Estas implementaciones muestran que las fábricas y las líneas de envasado detectan lo que AOI excede o pasa por alto, desde los rayones de CMP hasta los chips para cortar en cubitos.

Automatización de la inspección de calidad de los marcos de plomo

A medida que la fabricación de semiconductores se vuelve más sofisticada, el proceso de creación de marcos de plomo necesita mejorar en precisión y rendimiento.

Fabricación de semiconductores

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Inspección de calidad y defectos

Inspección de procesos de empaquetado de semiconductores

Solvision permite la inspección visual a través del análisis de imágenes con IA, fortaleciendo la fiabilidad de la información de desplazamiento y ángulo para reconocer productos defectuosos y errores en el proceso de unión de matrices.

Fabricación de semiconductores

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Inspección de calidad y defectos

Inspección visual de bandejas portadoras de semiconductores

Detección automática de defectos con inteligencia artificial. Inspección visual de bandejas portadoras de semiconductores.

Fabricación de semiconductores

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Inspección de calidad y defectos

Inspección de IA para componentes semiconductores

Superando las limitaciones tradicionales de AOI, Solvision de Solomon realiza rápidamente OCR sin verse afectado por las condiciones de fondo o de iluminación, complejidad o apariencia del número de serie.

Fabricación de semiconductores

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OCR y Reconocimiento de Caracteres

Inspección visual de bandejas de semiconductores

La herramienta de Detección de Características de Solomon Solvision primero aprende la posición de la bandeja y luego realiza OCR con mayor flexibilidad que los sistemas AOI.

Fabricación de semiconductores

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OCR y Reconocimiento de Caracteres
SolVision · Defect detection
Run your own parts through SolVision —
Bring your defect images, get a trained inspection model back.