Semicondutores
Inspeção de IA de semicondutores para defeitos que ficam no limite da visibilidade, com baixo contraste e facilmente confundidos com traços de polimento ou textura de superfície normal. Essas implantações mostram fábricas e linhas de embalagem capturando o que a AOI exagera ou erra, desde arranhões CMP até chips de corte.
A inspeção com IA para componentes semicondutores
Superando as limitações dos sistemas tradicionais de AOI, o SolVision da Solomon realiza rapidamente o OCR, sem ser afetado por condições de fundo, iluminação, complexidade ou aparência do número de série.
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Inspeção Visual de Bandejas de Semicondutores
A ferramenta de Detecção de Características do Solomon SolVision primeiro aprende a posição da bandeja e, em seguida, realiza OCR com mais flexibilidade do que os sistemas AOI.
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Inspeção de Bandeja de IC Usando IA
O SolVision utiliza IA para aprimorar a inspeção de bandejas de IC, garantindo detecção precisa e elevando os padrões de garantia de qualidade na indústria de semicondutores.
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Inspeção de Chips de Semicondutores Embalados
A ferramenta de Detecção de Anomalias usa tecnologia de aprendizado profundo para ensinar ao modelo de IA imagens de amostra de wafers "perfeitos".
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Detecção de Defeitos de Desprendimento no Corte de Wafers
A localização, o tamanho e a forma das rachaduras variam a cada vez, e a inspeção óptica tradicional não consegue identificar com precisão esses defeitos imprevisíveis.
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