{"id":86693,"date":"2025-02-12T14:38:45","date_gmt":"2025-02-12T06:38:45","guid":{"rendered":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/?p=86693"},"modified":"2025-02-19T08:57:22","modified_gmt":"2025-02-19T00:57:22","slug":"automatizando-inspecoes-de-wafer-de-semicondutores","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/casos-de-sucesso\/automatizando-inspecoes-de-wafer-de-semicondutores\/","title":{"rendered":"Automatizando Inspe\u00e7\u00f5es de Wafer de Semicondutores"},"content":{"rendered":"
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SolVisionCaso de Estudo<\/span><\/h2>\n\n\n\n
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<\/span><\/a>Semicondutores<\/a><\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n

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Automatizando Inspe\u00e7\u00f5es de Wafer de Semicondutores<\/h1><\/div><\/div>\n\n\n\n

Detec\u00e7\u00e3o Inteligente de Defeitos com IA para Wafers de Sil\u00edcio<\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n
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Equilibrando o rendimento e a qualidade dos wafers de sil\u00edcio<\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n

Durante a produ\u00e7\u00e3o, os wafers de semicondutores passam por processos como litografia, grava\u00e7\u00e3o, deposi\u00e7\u00e3o de filmes, difus\u00e3o e moagem, sendo expostos a diferentes subst\u00e2ncias no ambiente que podem causar defeitos que afetam a qualidade. Lasers podem ser usados para reparar c\u00e9lulas de sil\u00edcio com certos defeitos, mas essa \u00e9 uma etapa ineficiente para wafers com defeitos em excesso, pois \u00e9 melhor elimin\u00e1-los diretamente para evitar retardar a produ\u00e7\u00e3o. Um processo de inspe\u00e7\u00e3o \u00e9 necess\u00e1rio para localizar wafers defeituosos adequados para reparo.<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n

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\"Intelligent<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
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Sistemas de inspe\u00e7\u00e3o tradicionais r\u00edgidos<\/strong><\/h2>\n\n\n\n

Os sistemas tradicionais baseados em regras s\u00e3o facilmente influenciados pelas condi\u00e7\u00f5es externas de ilumina\u00e7\u00e3o e incapazes de classificar imagens de quadro completo, de modo que wafers excessivamente danificados n\u00e3o podem ser eliminados na fase preliminar. Wafers defeituosos tamb\u00e9m costumam ter defeitos sutis distribu\u00eddos aleatoriamente na superf\u00edcie, o que impede os sistemas de vis\u00e3o convencionais de estabelecer regras para inspe\u00e7\u00f5es eficientes.<\/p>\n<\/div><\/div><\/div>\n\n\n\n

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Detec\u00e7\u00e3o flex\u00edvel de defeitos com o SolVision<\/strong><\/h2>\n\n\n\n

Impulsionado por IA, o SolVision<\/a> \u00e9 capaz de reconhecer as caracter\u00edsticas de diferentes defeitos e identificar wafers abaixo do padr\u00e3o. Primeiro, o sistema usa a ferramenta de Classifica\u00e7\u00e3o para determinar se o wafer foi danificado al\u00e9m de reparo. O processamento de imagens divide as imagens digitalizadas dos wafers em se\u00e7\u00f5es, e a ferramenta de Segmenta\u00e7\u00e3o as inspeciona minuciosamente em busca de defeitos. Informa\u00e7\u00f5es como caracter\u00edsticas dos defeitos, localiza\u00e7\u00e3o, tamanho e outros dados s\u00e3o registrados para melhorar a efici\u00eancia dos reparos subsequentes.<\/p>\n<\/div><\/div><\/div>\n\n\n\n

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Inspe\u00e7\u00e3o por IA<\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n
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Amostra padr\u00e3o<\/strong><\/p>\n\n\n\n

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Produto defeituoso<\/strong><\/p>\n\n\n\n

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Os wafers defeituosos geralmente apresentam defeitos sutis distribu\u00eddos aleatoriamente na superf\u00edcie, o que impede os sistemas de AOI de estabelecerem regras para inspe\u00e7\u00f5es eficientes.<\/p>","protected":false},"author":875,"featured_media":56103,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"_gspb_post_css":"#gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95{font-size:60px;line-height:100px;text-align:center!important;color:var(--gs-colorone);margin-top:50px}#gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95 .gsap-g-line{text-align:center!important}#gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95 .gspb_heading_subtitle,#gspb_subheading-id-gsbp-d51e703b-ff95{display:block;line-height:22px;margin-top:5px;font-size:30px;color:var(--wp--preset--color--white, #ffffff)}.gs-titlebox{background:#fff;line-height:24px;font-size:90%;box-shadow:0 10px 10px #00000007;margin-bottom:25px}.gs-titlebox-text>p{margin-bottom:20px!important;margin-top:0}.gs-titlebox-text>p:last-of-type{margin-bottom:0!important}#gspb_titleBox-id-gsbp-0deb1d81-48a5 .gs-titlebox .gs-title-inbox,#gspb_titleBox-id-gsbp-d7f236a4-825c .gs-titlebox .gs-title-inbox{color:var(--wp--preset--color--black, #000000)}#gspb_titleBox-id-gsbp-0deb1d81-48a5 .gs-titlebox .gs-title-inbox svg,#gspb_titleBox-id-gsbp-d7f236a4-825c .gs-titlebox .gs-title-inbox svg{fill:var(--wp--preset--color--black, #000000)}.gs-titlebox .gs-title-inbox{display:flex;align-content:center;padding:15px 20px;font-weight:700;font-size:115%}.gs-titlebox .gs-title-inbox-label{flex-grow:1}.gs-titlebox .gs-titlebox-text{padding:20px}#gspb_image-id-gsbp-05c7652 img,#gspb_image-id-gsbp-d74d5a5 img{vertical-align:top;display:inline-block;box-sizing:border-box;max-width:100%;height:auto}","footnotes":""},"categories":[3213,3251,3229,3247,3223],"tags":[],"class_list":["post-86693","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-casos-de-sucesso","category-classificacao","category-deteccao-de-defeitos","category-semiconductors","category-solvision"],"acf":[],"lang":"pt","translations":{"pt":86693,"en":32252,"es":81665,"tw":32440,"zh":56950,"jp":78476,"de":88621,"fr":89410,"tr":90602,"vi":91720,"th":96594,"it":97885,"ko":95106},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/86693","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/875"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=86693"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/86693\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/56103"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=86693"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=86693"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=86693"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}