{"id":89245,"date":"2025-02-25T10:48:38","date_gmt":"2025-02-25T02:48:38","guid":{"rendered":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/?p=89245"},"modified":"2025-09-11T14:26:12","modified_gmt":"2025-09-11T06:26:12","slug":"inspection-visuelle-des-plateaux-de-semi-conducteurs","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/etudes-de-cas\/inspection-visuelle-des-plateaux-de-semi-conducteurs\/","title":{"rendered":"Inspection Visuelle des Plateaux de Semi-conducteurs"},"content":{"rendered":"
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SolVision\u00c9tude de cas<\/span><\/h2>\n\n\n\n
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Semi-conducteurs<\/a><\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n\n

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Inspection Visuelle des Plateaux de Semi-conducteurs<\/h1><\/div><\/div>\n\n\n\n

Reconnaissance IA des Diff\u00e9rents Caract\u00e8res Complexes<\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n
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Codes de suivi sur les plateaux de semi-conducteurs<\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n

Les plateaux (Tray) utilis\u00e9s pour l’inspection, le transport et l’exp\u00e9dition dans l’industrie des semi-conducteurs comportent souvent des num\u00e9ros en relief qui sont utilis\u00e9s pour le suivi et l’identification au fur et \u00e0 mesure de leur d\u00e9placement le long de la ligne de production.<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n

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\"Tracking<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n
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Limitations des syst\u00e8mes de vision traditionnels<\/strong><\/h2>\n\n\n\n

Dans ce cas particulier o\u00f9 les plateaux de semi-conducteurs \u00e9taient moul\u00e9s par injection, les caract\u00e8res imprim\u00e9s \u00e9taient susceptibles de d\u00e9placements, d’adh\u00e9rence, de marques de retrait et de nombreux autres types de d\u00e9fauts. L’impr\u00e9visibilit\u00e9 de ces anomalies rendait difficile la reconnaissance et l’identification claires par les syst\u00e8mes d’Inspection Optique Automatis\u00e9e (AOI<\/a>) bas\u00e9s sur des r\u00e8gles.<\/p>\n<\/div><\/div><\/div>\n\n\n\n

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Haute vitesse OCR IA par SolVision<\/strong><\/h2>\n\n\n\n

L’outil de d\u00e9tection des fonctionnalit\u00e9s de SolVision<\/a> apprend d’abord la position du plateau, puis effectue une reconnaissance optique de caract\u00e8res (OCR)<\/a> avec plus de flexibilit\u00e9 que les syst\u00e8mes AOI. L’inspection aliment\u00e9e par l’IA permet d’inspecter les plateaux, quel que soit leur emplacement ou la complexit\u00e9 et l’apparence des caract\u00e8res et des chiffres. Avec l’augmentation des donn\u00e9es d’\u00e9chantillons disponibles au fil du temps, le mod\u00e8le d’IA peut continuellement optimiser le processus de reconnaissance pour am\u00e9liorer les taux d’inspection.<\/p>\n<\/div><\/div><\/div>\n\n\n\n

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Inspection par IA<\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n
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\"AI<\/figure>\n<\/div>\n\n\n\n
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\"AI<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

L’outil de d\u00e9tection de caract\u00e9ristiques de Solomon SolVision apprend d’abord la position du plateau, puis effectue la reconnaissance optique de caract\u00e8res (OCR) avec plus de flexibilit\u00e9 que les syst\u00e8mes d’inspection optique automatis\u00e9e (AOI).<\/p>","protected":false},"author":875,"featured_media":20535,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"_gspb_post_css":"#gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95{font-size:60px;line-height:100px;text-align:center!important;color:var(--gs-colorone);margin-top:15px;margin-bottom:15px}#gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95 .gsap-g-line{text-align:center!important}#gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95 .gspb_heading_subtitle,#gspb_subheading-id-gsbp-d51e703b-ff95{display:block;line-height:22px;margin-top:5px;font-size:30px;color:var(--wp--preset--color--white, #ffffff)}.gs-titlebox{background:#fff;line-height:24px;font-size:90%;box-shadow:0 10px 10px #00000007;margin-bottom:25px}.gs-titlebox-text>p{margin-bottom:20px!important;margin-top:0}.gs-titlebox-text>p:last-of-type{margin-bottom:0!important}#gspb_titleBox-id-gsbp-0deb1d81-48a5 .gs-titlebox .gs-title-inbox,#gspb_titleBox-id-gsbp-d7f236a4-825c .gs-titlebox .gs-title-inbox{color:var(--wp--preset--color--black, #000000)}#gspb_titleBox-id-gsbp-0deb1d81-48a5 .gs-titlebox .gs-title-inbox svg,#gspb_titleBox-id-gsbp-d7f236a4-825c .gs-titlebox .gs-title-inbox svg{fill:var(--wp--preset--color--black, #000000)}.gs-titlebox .gs-title-inbox{display:flex;align-content:center;padding:15px 20px;font-weight:700;font-size:115%}.gs-titlebox .gs-title-inbox-label{flex-grow:1}.gs-titlebox .gs-titlebox-text{padding:20px}","footnotes":""},"categories":[3620,3608,3670,3688],"tags":[],"class_list":["post-89245","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-etudes-de-cas","category-ocr","category-semiconductors","category-solvision"],"acf":[],"lang":"fr","translations":{"fr":89245,"en":32229,"tw":32419,"zh":57100,"jp":77466,"es":81513,"pt":86391,"de":88094,"tr":91426,"vi":93749,"th":96772,"it":97718,"ko":94984},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/89245","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/875"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=89245"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/89245\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/20535"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=89245"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=89245"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=89245"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}