{"id":3053,"count":15,"description":"Inspecci\u00f3n de semiconductores mediante IA para detectar defectos que se encuentran en el borde de la visibilidad, con poco contraste y que se confunden f\u00e1cilmente con rastros de pulido o una textura superficial normal. Estas implementaciones muestran que las f\u00e1bricas y las l\u00edneas de envasado detectan lo que AOI excede o pasa por alto, desde los rayones de CMP hasta los chips para cortar en cubitos.","link":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/soluciones\/industrias\/industrial\/semiconductors\/","name":"Semiconductores","slug":"semiconductors","taxonomy":"category","parent":5122,"meta":[],"acf":[],"lang":"es","translations":{"es":3053,"en":1293,"pt":3247,"tw":1237,"zh":2325,"jp":1725,"de":3378,"fr":3670,"tr":3802,"vi":3986,"th":4373,"it":4564,"ko":4144},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories\/3053","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories"}],"about":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/wp-json\/wp\/v2\/taxonomies\/category"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories\/5122"}],"wp:post_type":[{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts?categories=3053"},{"href":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages?categories=3053"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}