{"id":88561,"date":"2025-02-20T17:01:52","date_gmt":"2025-02-20T09:01:52","guid":{"rendered":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/?p=88561"},"modified":"2025-02-20T17:02:55","modified_gmt":"2025-02-20T09:02:55","slug":"automatisierung-der-qualitaetsinspektion-von-leiterplattenrahmen","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/de\/anwenderberichte\/automatisierung-der-qualitaetsinspektion-von-leiterplattenrahmen\/","title":{"rendered":"Automatisierung der Qualit\u00e4tsinspektion von Leiterplattenrahmen"},"content":{"rendered":"<div class=\"post-title-custom-background wp-block-group alignfull has-white-color has-text-color has-link-color eplus-wrapper wp-elements-1\" style=\"margin-top:0;margin-bottom:0;padding-top:0;padding-right:0;padding-bottom:0;padding-left:0\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-constrained wp-container-core-group-is-layout-3110c56b wp-block-group-is-layout-constrained\">\n<div class=\"wp-block-cover alignfull eplus-wrapper\" style=\"margin-top:0;margin-bottom:0;padding-top:var(--wp--preset--spacing--50);padding-right:var(--wp--preset--spacing--20);padding-bottom:var(--wp--preset--spacing--50);padding-left:var(--wp--preset--spacing--20);min-height:220px;aspect-ratio:unset;\"><span aria-hidden=\"true\" class=\"wp-block-cover__background has-black-background-color has-background-dim\"><\/span><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"795\" height=\"1200\" class=\"wp-block-cover__image-background wp-image-56257\" alt=\"black and white labeled box\" src=\"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/wp-content\/uploads\/rozwxefl27k.jpg\" data-object-fit=\"cover\" title=\"\" srcset=\"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/wp-content\/uploads\/rozwxefl27k.jpg 795w, https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/wp-content\/uploads\/rozwxefl27k-199x300.jpg 199w, https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/wp-content\/uploads\/rozwxefl27k-768x1159.jpg 768w\" sizes=\"(max-width: 795px) 100vw, 795px\" \/><div class=\"wp-block-cover__inner-container is-layout-flow wp-block-cover-is-layout-flow\">\n<h2 id=\"gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95\" class=\"gspb_heading gspb_heading-id-gsbp-d51e703b-ff95\">SolVision<span class=\"gspb_heading_subtitle\">Fallstudie<\/span><\/h2>\n\n\n\n<div id=\"gspb_text-id-gsbp-7b121aa9-5d52\" class=\"gspb_text gspb_text-id-gsbp-7b121aa9-5d52\"><span style=\"\"><a href=\"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/de\/category\/case-studies\/Semiconductors\/\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">Halbleiter<\/a><\/span><\/div>\n<\/div><\/div>\n\n\n<h1 class=\"has-text-align-center wp-block-post-title has-text-color has-black-color has-large-font-size\">Automatisierung der Qualit\u00e4tsinspektion von Leiterplattenrahmen<\/h1><\/div><\/div>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading has-text-align-center eplus-wrapper\" id=\"ki-gestutzte-fehlererkennung-fur-halbleiterleiterplattenrahmen\"><strong><strong>KI-gest\u00fctzte Fehlererkennung f\u00fcr Halbleiterleiterplattenrahmen\u00a0<\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n<div style=\"height:50px\" aria-hidden=\"true\" class=\"wp-block-spacer eplus-wrapper\"><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-columns eplus-wrapper is-layout-flex wp-container-core-columns-is-layout-8f761849 wp-block-columns-is-layout-flex\">\n<div class=\"wp-block-column eplus-wrapper is-layout-flow wp-block-column-is-layout-flow\">\n<h2 class=\"wp-block-heading eplus-wrapper\" id=\"ein-schlusselkomponent-der-halbleitermontage\"><strong><strong><strong>Ein Schl\u00fcsselkomponent der Halbleitermontage<\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"eplus-wrapper wp-block-paragraph\">Im Halbleitermontageprozess verbinden Leiterplattenrahmen Chips mit Leiterplatten und werden auch f\u00fcr das Tragen von Chips, die Verbindung von Schaltkreisen und die Signal\u00fcbertragung verwendet. Fast alle Halbleiterverpackungen ben\u00f6tigen einen Leiterplattenrahmen, der entweder durch photochemisches \u00c4tzen oder mechanisches Stanzen hergestellt wird. Mit der zunehmenden Komplexit\u00e4t der Halbleiterfertigung muss der Prozess zur Erstellung von Leiterplattenrahmen hinsichtlich Genauigkeit und Ausbeute verbessert werden.<\/p>\n<\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-column eplus-wrapper is-layout-flow wp-block-column-is-layout-flow\">\n<figure class=\"wp-block-image size-large eplus-wrapper\"><img decoding=\"async\" src=\"\/wp-content\/uploads\/S001-600x607.jpg\" alt=\"AI defect detection for semiconductor lead frames\" title=\"\"><\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-greenshift-blocks-titlebox gspb_titleBox gspb_titleBox-id-gsbp-d7f236a4-825c\" id=\"gspb_titleBox-id-gsbp-d7f236a4-825c\"><div class=\"gs-titlebox\"><div class=\"gs-title-inbox\"><div class=\"gs-titlebox-icon\"><\/div><div class=\"gs-title-inbox-label\"><\/div><\/div><div class=\"gs-titlebox-text\">\n<h2 class=\"wp-block-heading eplus-wrapper\" id=\"komplexe-hintergrunde-konnen-die-erkennungsraten-beeinflussen\"><strong><strong>Komplexe Hintergr\u00fcnde k\u00f6nnen die Erkennungsraten beeinflussen<\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"eplus-wrapper wp-block-paragraph\">Ein einzelner Defekt im Leiterplattenrahmen kann bereits zum vollst\u00e4ndigen Ausfall des Halbleiters f\u00fchren. Daher ist die fr\u00fchzeitige Identifizierung von Defekten im Produktionsprozess entscheidend, um Herstellern zu helfen, Zeit und Ressourcen zu sparen. H\u00e4ufige Defekte bei Leiterplattenrahmen sind Kantengrate, Verunreinigungen, Flecken und Kratzer. Bei der Oberfl\u00e4chenscanen neigen traditionelle Sichtsysteme dazu, verwirrt zu werden, wenn Defekte zu \u00e4hnlich sind oder mit dem Hintergrund verschwommen sind, was die Inspektionsgenauigkeit beeintr\u00e4chtigt.<\/p>\n<\/div><\/div><\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-greenshift-blocks-titlebox gspb_titleBox gspb_titleBox-id-gsbp-0deb1d81-48a5\" id=\"gspb_titleBox-id-gsbp-0deb1d81-48a5\"><div class=\"gs-titlebox\"><div class=\"gs-title-inbox\"><div class=\"gs-titlebox-icon\"><\/div><div class=\"gs-title-inbox-label\"><\/div><\/div><div class=\"gs-titlebox-text\">\n<h2 class=\"wp-block-heading eplus-wrapper\" id=\"erkennung-von-defekten-mit-kunstlicher-intelligenz\"><strong><strong>Erkennung von Defekten mit k\u00fcnstlicher Intelligenz<\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"eplus-wrapper wp-block-paragraph\">Angetrieben von KI ist <a href=\"https:\/\/solomon-3d.mesvr.tw\/de\/products\/solvision\/\">SolVision<\/a> ein visuelles Inspektionssystem, das in der Lage ist, verschiedene Produktionsdefekte zu erlernen und gleichzeitig Erkennungsfehler zu minimieren. Das Datenanreicherungstool der Software hilft, den Trainingsbereich des KI-Modells zu erweitern, sodass selbst Defekte vor komplexen oder unordentlichen Hintergr\u00fcnden erkannt werden k\u00f6nnen. Auch schwer erkennbare M\u00e4ngel, schwarze Kanten oder Flecken sowie Kanten\u00fcberst\u00e4nde k\u00f6nnen genau identifiziert werden.<\/p>\n<\/div><\/div><\/div>\n\n\n\n<p class=\"eplus-wrapper wp-block-paragraph\"><\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-group eplus-wrapper\"><div class=\"wp-block-group__inner-container is-layout-flow wp-block-group-is-layout-flow\">\n<h2 class=\"wp-block-heading has-text-align-center has-black-color has-text-color eplus-wrapper\" id=\"ki-inspektion\"><strong><strong><strong><strong>KI-Inspektion<\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-columns eplus-wrapper is-layout-flex wp-container-core-columns-is-layout-8f761849 wp-block-columns-is-layout-flex\">\n<div class=\"wp-block-column eplus-wrapper is-layout-flow wp-block-column-is-layout-flow\">\n<p class=\"has-text-align-center eplus-wrapper wp-block-paragraph\"><strong>Goldenes Muster<\/strong><\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large eplus-wrapper\"><img decoding=\"async\" src=\"\/wp-content\/uploads\/S003-600x616.png\" alt=\"Automating Quality Inspection of Lead Frames\" title=\"\"><\/figure>\n<\/div>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-column eplus-wrapper is-layout-flow wp-block-column-is-layout-flow\">\n<p class=\"has-text-align-center eplus-wrapper wp-block-paragraph\"><strong>Schwarze Flecken und erhabene Kanten<\/strong><\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large eplus-wrapper\"><img decoding=\"async\" src=\"\/wp-content\/uploads\/S004-600x601.jpg\" alt=\"Automating Quality Inspection of Lead Frames\" title=\"\"><\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div><\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Mit der zunehmenden Komplexit\u00e4t der Halbleiterfertigung muss der Prozess zur Erstellung von Leiterplattenrahmen in Bezug auf Genauigkeit und Ausbeute verbessert 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